mcu5i51 发表于 2017-10-14 10:10
写入多的条件用EEP比较好，再多只能用铁电的了

真正使用的话，写入次数不超过10次，只是常规带电老化发现FLASH容易坏，然后才做擦写次数实验。
测试结果发现并不是规格书写的那么回事。

flash质量再差，也不至于只有几百次的擦写寿命，你换几个不同批次的芯片试试。另外，再确定下时钟频率和波形是否有异常。

StoneSun 发表于 2017-10-14 11:14
flash质量再差，也不至于只有几百次的擦写寿命，你换几个不同批次的芯片试试。另外，再确定下时钟频率和波 ...

你说的有道理，因为同时找了个三星K9F4G08的芯片一起测试，三星的一直好好的。

现在就是想分析一下他们的时序，但不好测试。

AppleFarm 发表于 2017-10-14 10:16
真正使用的话，写入次数不超过10次，只是常规带电老化发现FLASH容易坏，然后才做擦写次数实验。
测试结果 ...

你讲的老化是只在高温下吗？还是有其他条件呢？
谢谢。